Instrumentos Keithley Optical SourceMeter
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Instrumentos Keithley Optical SourceMeter
A instrumentação Keithley simplifica a criação de sistemas LIV (luz-corrente-voltagem), permitindo o teste de módulos de diodo laser com máxima eficiência e excelente custo-benefício.
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Sistema de Teste de Diodo Laser Pulsado 2520: Um sistema de teste sincronizado que oferece capacidade total de alimentação e medição para testes LIV, tanto em modo pulsado quanto contínuo.
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SMUs TEC SourceMeter (2510 e 2510-AT): Garantem o controle rigoroso de temperatura para módulos de diodo laser, gerenciando com precisão seus resfriadores termoelétricos (TEC).
| Recurso (Feature) | Benefício (Benefit) |
| Controle ativo de temperatura | Evita oscilações térmicas que poderiam alterar o comprimento de onda dominante do diodo laser, prevenindo sobreposição de sinais e problemas de diafonia (crosstalk). |
| Controlador TEC de 50 W | Permite velocidades de teste mais altas e uma faixa de ajuste (setpoint) de temperatura mais ampla do que soluções de menor potência. |
| Controle P-I-D totalmente digital | Proporciona maior estabilidade de temperatura e permite atualizações fáceis através de uma simples alteração de firmware. |
| Recurso de sintonia automática (Autotuning) para o loop térmico (2510-AT) | Elimina a necessidade de experimentação por "tentativa e erro" para determinar a melhor combinação de coeficientes P, I e D. |
| Ampla faixa de temperatura (-50°C a +225°C) com alta resolução (±0,001°C) e estabilidade (±0,005°C) | Atende à maioria dos requisitos para testes de produção de componentes ópticos resfriados e subconjuntos. |
| Compatível com diversos sensores de temperatura (termistores, RTDs e sensores CI) | Funciona com os tipos de sensores mais comumente utilizados em uma vasta gama de módulos de diodo laser. |
| Função de medição de Ohms em CA (AC Ohms) | Verifica a integridade do dispositivo TEC. |
| Detecção a 4 fios de circuitos abertos/curtos para o elemento de feedback térmico | Elimina erros de resistência dos cabos no valor medido, reduzindo a possibilidade de falsas reprovações ou danos ao dispositivo. |
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