Analisador de Parâmetros Keithley 4200A-SCS
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Analisador de Parâmetros Keithley 4200A-SCS
Acelere pesquisas, análises de confiabilidade e estudos de falhas em dispositivos semicondutores, materiais e desenvolvimento de processos.
O 4200A-SCS é o analisador de parâmetros de mais alto desempenho da categoria, oferecendo medições sincronizadas de Corrente-Tensão (I-V), Capacitância-Tensão (C-V) e I-V pulsado ultrarrápido. Obtenha insights paramétricos de forma rápida e clara.
Impulsione suas descobertas com facilidade O Analisador de Parâmetros 4200A-SCS reduz o tempo entre a configuração e a execução dos testes de caracterização em até 50%, sem comprometer a capacidade de medição e análise. Além disso, a expertise de medição integrada oferece orientação inigualável para os testes, garantindo suprema confiança nos resultados.
Destaques Principais
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Hardware de medição avançado: Suporte completo para tipos de medição DC I-V, C-V e I-V pulsado.
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Pronto para usar: Comece a testar imediatamente com centenas de aplicações pré-configuradas e modificáveis incluídas no software Clarius.
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Automação inteligente: Extração de parâmetros em tempo real, geração automática de gráficos e funções de análise complexas.
Caracterização C-V de Alta Precisão
Realize medições na escala de um dígito de femtofarads com a mais nova unidade de capacitância-tensão (CVU) da Keithley, a 4215-CVU. Ao integrar uma fonte AC de 1 V à arquitetura de CVU líder da indústria, a 4215-CVU oferece medições de capacitância de baixo ruído em frequências de 1 kHz a 10 MHz.
Destaques:
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Primeiro medidor C-V da categoria capaz de fornecer uma tensão de fonte AC de 1 V.
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Resolução de frequência de 1 kHz em toda a faixa (1 kHz a 10 MHz).
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Mede capacitância, condutância e admitância.
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Medição em até quatro canais com o Multiswitch 4200A-CVIV.
Meça. Comute. Repita.
O Multiswitch 4200A-CVIV alterna automaticamente entre medições I-V e C-V sem a necessidade de recabeamento ou de levantar as pontas de prova (prober tips). Diferente dos concorrentes, o display de quatro canais do 4200A-CVIV fornece feedback visual local para uma configuração de teste rápida e fácil resolução de problemas (troubleshooting) caso ocorram resultados inesperados.
Destaques:
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Mude a medição C-V para qualquer terminal do dispositivo sem recabeamento.
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Configurável pelo usuário para capacidade de baixa corrente.
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Personalize os nomes dos canais de saída.
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Visualize o status do teste em tempo real.
Medições Estáveis de Baixa Corrente para Caracterização I-V
Com os módulos 4201-SMU e 4211-SMU, você alcança medições estáveis de baixa corrente mesmo em sistemas de alta capacitância. Com quatro modelos de Unidade de Medida e Fonte (SMU) à escolha, o 4200A-SCS pode ser personalizado para atender a todas as suas necessidades de medição I-V.
A Keithley garante as medições de baixa corrente mais precisas com tempo de inatividade mínimo ou nulo, oferecendo unidades instaláveis em campo e módulos pré-amplificadores opcionais.
Destaques:
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Adicione uma SMU sem precisar enviar o instrumento de volta à fábrica.
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Realize medições na ordem de femtoamperes.
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Suporte para até 9 canais SMU.
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Otimizado para cabos longos ou chucks (bases de fixação) grandes.
Solução Integrada com Probers Analíticos e Controladores Criogênicos
O Analisador de Parâmetros 4200A-SCS suporta diversos wafer probers (estações de prova) manuais e semiautomáticos, além de controladores de temperatura criogênica. A compatibilidade inclui marcas como MPI, Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories e o controlador criogênico LakeShore Modelo 336.
Destaques:
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Sequenciamento de testes no estilo "apontar e clicar".
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Modo "Manual" para testar a funcionalidade do prober.
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Modo de simulação (Fake prober) permite depuração (debugging) sem remover comandos.
Aplicações
Biosensor Characterization
Biosensors or bioFETs convert biological response to an analyte into an electrical signal. The Clarius Software that is integrated into the 4200A-SCS includes a project for testing bioFETs. Use it as a starting point to characterize transfer and output characteristics of your biosensors, and expand your work from there.
Femtofarad Capacitance Measurements
Measure sub-femtofarad capacitances with the 4215-CVU module. By driving 1 V AC, the 4215-CVU can achieve a noise level as low as six attofarads when measuring a 1 fF capacitor. This is just one of dozens of applications included with the Clarius software for measuring capacitance and extracting important parameters.
Highlights
- Built-in femtofarad measurement capability
- 10,000 frequency steps from 1kHz to 10MHz
- Customize any test to any device using user libraries
Semiconductor and NVM Reliability
Put your new technologies to the test with thorough pulsed I-V characterization. The 4200A-SCS comes with support and ready-to-run tests for the latest in NVRAM technologies from floating gate flash to ReRAM and FeRAM. Dual sourcing and measuring capabilities in current and voltage allow both transient and I-V domain characterization.
C-V Measurement for High Impedance Applications
Use Keithley’s custom Very Low Frequency C-V Technique to analyze the capacitance of your high resistance sample. This technique is performed using only source measure unit (SMU) instruments but can be combined with a 4210-CVU to perform higher frequency measurements as well.
Highlights
- .01 to 10 Hz frequency range with sensitivity of 1 pF to 10 nF
- 3½-digit typical resolution, minimum typical of 10 fF
Testing when using Long Cables or Capacitive Fixtures
Use 4201 or 4211-SMUs when making tests requires very long cabling or fixtures with higher capacitances. These SMUs are ideal for connecting to LCD test stations, probers, switch matrices or any other large or complicated tester. Field installable versions allow you to add capacity without returning the unit to a service center.
Resistivity of Materials
Use a 4200A-SCS with integrated SMUs to easily measure resistivity using a four-point collinear probe or van der Pauw method. Included tests perform repetitive van der Pauw calculations automatically, saving you valuable research time. A maximum current resolution of 10aA and input impedance of >1016 ohms give you more accurate and precise results.
MOSFET Characterization
The 4200A-SCS can hold all the instruments necessary for full characterization of MOS devices through component or on-wafer testing. Included tests and projects solve for oxide thickness of a MOSCap, threshold voltages, doping concentration, mobile ion concentration, and more. All these tests can be run at the touch of a button from a single instrument box.
Software
Automated Control from Lab to Fab
Keithley’s Automated Characterization Suite (ACS) offers complete control of your equipment. Whether you need to control a few instruments on your bench, or automate an entire test rack for production, ACS offers a flexible, interactive environment for device characterization, parametric test, reliability test, and simple functional test.
- Perform simple 1-off tests or build complex project trees
- Code with Python inside ACS for unlimited flexibility and control
- Manual or automated wafer prober control
- Data management and statistical analysis capabilities
Clarius+ Analysis Suite
The Clarius+ software suite makes it easy to get characterization insights on your materials and devices. It runs natively on the 4200A-SCS to plan, configure, and analyze results of your tests. Clarius can also be installed on any Windows 10 PC to plan and configure tests before running them in your lab, or analyze data after it’s gathered.
- Over 200 pre-configured tests to get your lab running faster
- Real example data curated gathered by Keithley engineers
- Built-in contextual help and application notes
- Monitor Mode to view results real-time
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