SMU Série 2606B: Alta Densidade de Canais
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SMU Série 2606B: Alta Densidade de Canais
O System SourceMeter (SMU) de Alta Densidade Série 2606B oferece quatro canais SMU de 20 watts em um chassi compacto de apenas 1U de altura. Projetado para fabricantes que precisam otimizar o espaço no chão de fábrica e reduzir custos operacionais, o 2606B triplica a densidade, aumenta o throughput (vazão de teste) e minimiza a necessidade de racks adicionais.
Esta é a solução ideal para testes de produção de Diodos Laser, LEDs, semicondutores de 2 e 3 terminais e muito mais.
Maximize o Espaço do Seu Rack
Quando o espaço físico é escasso e a expansão de infraestrutura é custosa, o 2606B permite adicionar maior capacidade de canais na mesma área ocupada, superando significativamente os SMUs tradicionais de 2U.
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Empilhamento Eficiente: Fácil montagem em rack sem necessidade de espaçamento térmico adicional de 1U.
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Densidade Superior: Obtenha 3 vezes mais canais ocupando o mesmo espaço de rack.
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Compacto: Tenha o mesmo número de canais ocupando 3 vezes menos espaço.
A Potência de dois 2602Bs em um único equipamento
Experimente a mesma integridade de medição, sincronização, velocidade e precisão do líder da indústria, o Keithley 2602B System SourceMeter, mas em um formato 1U. O 2606B utiliza os mesmos conectores analógicos, de E/S digital e TSP-Link do 2602B, garantindo uma migração perfeita.
Especificações de Precisão:
Precisão básica de medição de 0,015%.
Resolução de 6 ½ dígitos.
Faixa de baixa corrente de 100nA com sensibilidade de 2pA.
Conectores analógicos Phoenix de 8 pinos e E/S digital de 25 pinos.
Desempenho de Sistema para Produtividade Inigualável
A tecnologia Test Script Processor (TSP®) incorpora e executa programas de teste completos dentro do próprio instrumento, entregando o melhor desempenho da categoria. A tecnologia TSP-Link® permite a expansão para até 64 canais para testes paralelos de alta velocidade (SMU-por-pino) sem a necessidade de um mainframe central. Todos os canais são controlados simultânea e independentemente com sincronização precisa (<500 ns).
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Zero Latência: Elimina o tempo gasto com comunicações de barramento de e para o PC.
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Compatibilidade Total: Código de script TSP compatível com o Instrumento 2602B SourceMeter.
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Escalabilidade: Conecte até 32 nós TSP-Link ou 64 canais SMU independentes.
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Flexibilidade: Reconfigure facilmente conforme os requisitos de teste mudam.
Aplicações
Teste de Produção de Diodo Laser (VCSEL) para Aplicações de Sensoriamento 3D
O sistema de teste DC de melhor desempenho da indústria para a produção de Diodos Laser (LD) utiliza SMUs (Source Measure Units – Unidades de Fonte e Medição) de alta velocidade e precisão. O sistema realiza simultaneamente o fornecimento de corrente e o monitoramento de tensão-corrente dos módulos de diodo laser e da corrente do fotodiodo. As SMUs representam a instrumentação LIV (Luz-Corrente-Tensão) de melhor custo-benefício, oferecendo alta sincronização de sistema e elevado throughput (vazão de teste).
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Fonte de corrente programável: Até 3 A e larguras de pulso de 100 µs.
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Alta resolução: Medição de tensão e corrente com resolução de 100 nV e 0,1 fA.
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Eficiência de dados: A capacidade de processamento TSP integrada reduz a latência na comunicação do barramento entre PC e instrumento.
Teste de Produção de LEDs em Alto Volume
O SMU 2606B é um instrumento líder de mercado para a caracterização DC e teste de produção de LEDs. Ele é configurável para fornecer corrente ou tensão, acoplado à medição simultânea com precisão básica de 0,015%, atendendo a uma variedade de necessidades de teste. Além disso, a tecnologia Test Script Processor (TSP®) proporciona vantagens significativas de velocidade e processamento.
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Fonte de corrente programável: Até 3 A e larguras de pulso de 100 µs.
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Alta resolução: Medição de tensão e corrente com resolução de 100 nV e 0,1 fA.
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Eficiência de dados: A capacidade de processamento TSP integrada reduz a latência na comunicação do barramento entre PC e instrumento.
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Escalabilidade: Encadeamento (daisy-chain) de até 64 canais para testes paralelos de alto volume.
Caracterização de Transistores com Instrumentos SMU Multicanal
Com suas funções integradas de fonte e medição (tensão ou corrente), aliadas à alta precisão e exatidão, o System SourceMeter SMU 2606B é ideal para testar transistores em wafer ou em componentes encapsulados. O equipamento permite capturar famílias de curvas de dreno, tensão de limiar (threshold voltage), fuga de porta (gate leakage) e transcondutância.
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Fonte de corrente programável: Até 3 A e larguras de pulso de 100 µs.
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Alta resolução: Medição de tensão e corrente com resolução de 100 nV e 0,1 fA.
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Precisão superior: Melhor precisão de 0,015% com resolução de 6½ dígitos.
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Eficiência de dados: A capacidade de processamento TSP integrada reduz a latência na comunicação do barramento entre PC e instrumento.
Software
Controle Automatizado: Do Laboratório à Fábrica
O Automated Characterization Suite (ACS) da Keithley coloca você no controle total dos seus equipamentos. Seja para gerenciar instrumentos individuais em sua bancada ou automatizar um rack inteiro de testes na linha de produção, o ACS oferece um ambiente interativo e flexível. Ele é a solução ideal para caracterização de dispositivos, testes paramétricos, testes de confiabilidade e testes funcionais.
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Escalabilidade Total: Realize desde testes pontuais simples até a construção de árvores de projetos complexas.
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Flexibilidade Ilimitada: Programe diretamente em Python dentro do ACS para controle total e customização sem limites.
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Controle de Wafers: Suporte para controle manual ou automatizado de estações de prova (wafer probers).
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Inteligência de Dados: Recursos avançados para gerenciamento de dados e análise estatística integrada.
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